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飽和PCT老化試驗箱

產品分類: 溫濕度試驗系列

飽和PCT老化試驗箱稱PCT高壓加速老化試驗機,主要測試產品封裝之抗濕氣能力,如果封裝不好,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體之中,常見的故裝原因:爆米花效應、動金屬化區域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路等相關問題。

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產品詳情

飽和PCT老化試驗箱稱PCT高壓加速老化試驗機,主要測試產品封裝之抗濕氣能力,如果封裝不好,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體之中,常見的故裝原因:爆米花效應、動金屬化區域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路等相關問題。


試驗標準及方法:

MS IEC 60068-2-66-2008  環境試驗 第2-66部分-試驗方法 試驗Cx-穩態濕熱(不飽和加壓蒸汽)


技術參數:

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PCT高壓加速老化試驗箱(又名PCT老化試驗箱)是提高環境應力(如:溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷等),加快試驗過程,縮短產品或系統的壽命試驗時間,主要是模擬氣候環境測試產品在不同溫度、濕度及壓力下密封性、氣密性的試驗設備。其廣泛應用于電子器件、汽車零配件、塑膠、線路板、IC、LCD、LED、磁鐵等行業。


PCT高壓加速老化試驗箱最主要是測試半導體封裝之抗濕氣能力,待測品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環境下測試,如果半導體封裝的不好,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體之中,常見的故裝原因:爆米花效應、動金屬化區域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路等相關問題。


依據試驗濕度飽和度可劃分為:飽和高壓加速老化試驗箱及非飽和高壓加速老化試驗箱


PCT高壓加速老化試驗箱應用領域:

航空航天、國防軍工、汽車機電、信息通訊、能源材料、行業定制

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